STM32F030RCT6 STMicroelectronics
Symbol Micros:
UISTM32f030rct6
Obudowa: LQFP64
32-bit MCU; 256kB-FLASH; 32kB-SRAM; 51 I/O; 2,4V~3,6V; 48MHz; A/D; USART; SPI; TWI; -40°C ~ 85°C; Odpowiednik: STM32F030RCT6TR;
Parametry
Liczba wejść/wyjść: | 51 |
Obudowa: | LQFP64 |
Pamięć RAM: | 32kB |
Zakres napięcia zasilania: | 2,4V~3,6V |
Częstotliwość: | 48,0000MHz |
Pamięć FLASH: | 256kB |
Architektura: | 32-bit |
Producent: ST
Symbol producenta: STM32F030RCT6 RoHS
Obudowa dokładna: LQFP64
karta katalogowa
Stan magazynowy:
183 szt.
ilość szt. | 1+ | 3+ | 10+ | 40+ | 160+ |
---|---|---|---|---|---|
cena netto (PLN) | 13,0000 | 11,5900 | 10,7400 | 10,2400 | 10,0000 |
Producent: ST
Symbol producenta: STM32F030RCT6 RoHS
Obudowa dokładna: LQFP64
karta katalogowa
Stan magazynowy:
0 szt.
ilość szt. | 1+ | 3+ | 10+ | 40+ | 160+ |
---|---|---|---|---|---|
cena netto (PLN) | 13,0000 | 11,5900 | 10,7400 | 10,2400 | 10,0000 |
Producent: ST
Symbol producenta: STM32F030RCT6TR
Obudowa dokładna: LQFP64
Magazyn zewnętrzny:
4000 szt.
ilość szt. | 1000+ (Potrzebna ilość znacząco większa? Zapytaj o cenę.) |
---|---|
cena netto (PLN) | 10,0000 |
Producent: ST
Symbol producenta: STM32F030RCT6TR
Obudowa dokładna: LQFP64
Magazyn zewnętrzny:
20000 szt.
ilość szt. | 1000+ (Potrzebna ilość znacząco większa? Zapytaj o cenę.) |
---|---|
cena netto (PLN) | 10,0000 |
Producent: ST
Symbol producenta: STM32F030RCT6
Obudowa dokładna: LQFP64
Magazyn zewnętrzny:
1635 szt.
ilość szt. | 160+ (Potrzebna ilość znacząco większa? Zapytaj o cenę.) |
---|---|
cena netto (PLN) | 10,0000 |
Liczba wejść/wyjść: | 51 |
Obudowa: | LQFP64 |
Pamięć RAM: | 32kB |
Zakres napięcia zasilania: | 2,4V~3,6V |
Częstotliwość: | 48,0000MHz |
Pamięć FLASH: | 256kB |
Architektura: | 32-bit |
Interfejs ETHERNET: | NIE |
Producent: | STMicroelectronics |
Temperatura pracy (zakres): | -40°C ~ 85°C |
Interfejs CAN: | NIE |
Interfejs CRYPT: | NIE |
Interfejs SPI: | TAK |
Interfejs TWI (I2C): | TAK |
Interfejs UART/USART: | TAK |
Interfejs USB: | NIE |
Przetwornik A/D: | TAK |
Przetwornik D/A: | NIE |